學位論文
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Item 以奈米光柵耦合表面電漿子共振增強拉曼散射於生醫感測之應用(2024) Cagayan, Gerald Reymari Acoba; Cagayan, Gerald Reymari AcobanoneItem 開發硫摻雜石墨烯量子點之電漿子胜肽晶片於人工唾液中檢測人類角細胞蛋白 19 分子(2024) 郭昭顯; Guo, Jhao-SianItem 以表面電漿共振技術探討電化學法之石墨烯氧化物去氧還原過程(2013) 郭峻銓; Kuo, Chun-Chuan表面電漿共振(surface plasmon resonance,SPR)技術利用表面電漿波(surface plasmon wave,SPW)可偵測固體表面物質的些微變化。本論文利用電化學循環伏安法(cyclic voltammetry,CV)還原石墨烯氧化物(graphene oxide,GO)並搭配SPR技術即時檢測GO的還原現象,其還原態則稱為「還原石墨烯氧化物(reduced graphene oxide,rGO)」。在去氧還原的過程中因為GO的折射率變化使得SPR角度產生位移現象。因此可藉由位移角度的變化量推測rGO的還原程度。 實驗流程首先在在金膜表面連結十八烷基硫醇(1-Octadecanethiol,ODT),作為GO的連結層。然後將金膜浸泡於GO水溶液裡,使GO連結在金膜表面。使用電化學CV還原GO以得到rGO,還原過程中同時記錄SPR角位移。除了1層GO,本實驗另外製作多層GO,比較層數對於電化學還原法與SPR角變化的影響。最後以X光光電子能譜儀(X-ray photoelectron spectroscopy,XPS)驗證經CV不同掃描圈數所得之rGO的碳含量。 當GO層數越來越多時,介電層的整體折射率以及厚度造成SPR角往大角度移動,降低漸逝波與表面電漿波的耦合效率。經過電化學法還原GO後,rGO的SPR角將會往小角度移動,且SPR曲線也會因此變得比較窄以及SPR耦合效率提升。