量測方法、量測裝置及拍攝系統

dc.contributor國立臺灣師範大學電機工程學系zh_tw
dc.contributor.author許陳鑑zh_tw
dc.contributor.author盧明智zh_tw
dc.contributor.author王地河zh_tw
dc.contributor.author陳政傳zh_tw
dc.date.accessioned2014-10-30T09:28:39Z
dc.date.available2014-10-30T09:28:39Z
dc.date.issued2010-01-11zh_TW
dc.description.abstract一種量測方法,用以量測一拍攝系統與一待測物之間的距離。拍攝系統具有一鏡頭、一影像處理裝置以及一顯示裝置。影像處理裝置處理鏡頭所擷取之影像,使得顯示裝置呈現一畫面。顯示裝置具有複數掃描線。本發明之量測方法,包括以下步驟:在畫面中,取得一第一待測點;得知第一待測點在掃描線所在位置;在拍攝系統與待測物之間的距離保持不變的情況下,將拍攝系統往一預設方向移動;重新量測得到第一待測點對應於畫面在掃描線所在位置之第二待測點;計算第一及第二待測點以及拍攝系統移動的距離,以得知拍攝系統與待測物之間的距離。 【創作特點】 本發明提供一種量測方法,用以量測一拍攝系統與一待測物之間的距離。拍攝系統具有一鏡頭、一影像處理裝置以及一顯示裝置。影像處理裝置處理鏡頭所擷取之影像,使得顯示裝置呈現一畫面。顯示裝置具有複數掃描線。本發明之量測方法,包括以下步驟:在畫面中,取得一第一待測點;在拍攝系統與待測物之間的距離保持不變的情況下,將拍攝系統往一預設方向移動;重新量測第一待測點對應於畫面之一第二像素值;計算第一及第二像素值以及拍攝系統移動的距離,以得知拍攝系統與待測物之間的距離。 本發明另提供一種量測裝置,用以量測一拍攝系統與一待測物之間的距離。拍攝系統具有一顯示裝置。顯示裝置用以呈現對應影像之一畫面,並具有複數掃描線。本發明之量測裝置包括,一設定模組、一測量模組以及一運算模組。 設定模組在畫面中,設定一第一待測點。測量模組在拍攝系統未移動前,測量第一待測點對應畫面之一第一像素值,在拍攝系統移動後,測量第一待測點對應畫面之一第二像素值。在拍攝系統與待測物之間的距離保持不變的情況下,拍攝系統係往一預設方向移動。運算模組根據第一及第二像素值以及拍攝系統移動的距離,計算出拍攝系統與待測物之間的距離。 本發明另提供一種拍攝系統包括,一鏡頭、一顯示裝置以及一量測裝置。鏡頭用以擷取一影像。顯示裝置用以呈現對應影像之一畫面,並具有複數掃描線。量測裝置包括一設定模組、一測量模組以及一運算模組。 設定模組在畫面中,設定一第一待測點。測量模組在拍攝系統未移動前,測量第一待測點對應畫面之一第一像素值,在拍攝系統移動後,測量第一待測點對應畫面之一第二像素值。在拍攝系統與待測物之間的距離保持不變的情況下,拍攝系統係往一預設方向移動。運算模組根據第一及第二像素值以及拍攝系統移動的距離,計算出拍攝系統與待測物之間的距離。zh_tw
dc.identifierntnulib_tp_E0607_06_006zh_TW
dc.identifier.urihttp://rportal.lib.ntnu.edu.tw/handle/20.500.12235/32194
dc.languagechizh_TW
dc.relation〈中華民國發明專利公告號,I 319477〉zh_tw
dc.title量測方法、量測裝置及拍攝系統zh_tw

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