SQUID磁量計串接式特性之研究
dc.contributor | 楊鴻昌教授 | zh_TW |
dc.contributor.author | 龎楷翃 | zh_TW |
dc.date.accessioned | 2019-09-04T01:30:09Z | |
dc.date.available | 不公開 | |
dc.date.available | 2019-09-04T01:30:09Z | |
dc.date.issued | 2008 | |
dc.description.abstract | 在本實驗中,我們在10 mm x 10 mm x 1 mm的碳酸鍶雙晶體(晶界夾角24°)上鍍製高溫超導薄膜(YBa2Cu3O7-δ),並用來製作直接耦合式磁量計,並對其進行分析及研究。 我們總共設計9個SQUID在圖形中,其目的是要增加研製時的成功良率,避免因為單一個SQUID的Josephson 接面失敗,而造成整個樣品的失敗。另外此設計可以單獨一個操作,或可將兩個SQUID串聯起來工作,如此可以使得Vpp有疊加的作用,其優點是會使SQUID的靈敏度提高。其中有3種不同線寬,分別為2μm、3μm及4μm。 最後我們製作出來的磁量計單顆SQUID的Vpp為8μV到20μV之間。而雜訊部份,在頻率為1Hz時,都有數pT/cmHz1/2以上;而在白雜訊區段,則都在100fT/cmHz1/2以上。 | zh_TW |
dc.description.sponsorship | 光電科技研究所 | zh_TW |
dc.identifier | GN0693480336 | |
dc.identifier.uri | http://etds.lib.ntnu.edu.tw/cgi-bin/gs32/gsweb.cgi?o=dstdcdr&s=id=%22GN0693480336%22.&%22.id.& | |
dc.identifier.uri | http://rportal.lib.ntnu.edu.tw:80/handle/20.500.12235/98137 | |
dc.language | 中文 | |
dc.subject | 磁量計 | zh_TW |
dc.title | SQUID磁量計串接式特性之研究 | zh_TW |