SQUID磁量計串接式特性之研究

dc.contributor楊鴻昌教授zh_TW
dc.contributor.author龎楷翃zh_TW
dc.date.accessioned2019-09-04T01:30:09Z
dc.date.available不公開
dc.date.available2019-09-04T01:30:09Z
dc.date.issued2008
dc.description.abstract在本實驗中,我們在10 mm x 10 mm x 1 mm的碳酸鍶雙晶體(晶界夾角24°)上鍍製高溫超導薄膜(YBa2Cu3O7-δ),並用來製作直接耦合式磁量計,並對其進行分析及研究。 我們總共設計9個SQUID在圖形中,其目的是要增加研製時的成功良率,避免因為單一個SQUID的Josephson 接面失敗,而造成整個樣品的失敗。另外此設計可以單獨一個操作,或可將兩個SQUID串聯起來工作,如此可以使得Vpp有疊加的作用,其優點是會使SQUID的靈敏度提高。其中有3種不同線寬,分別為2μm、3μm及4μm。 最後我們製作出來的磁量計單顆SQUID的Vpp為8μV到20μV之間。而雜訊部份,在頻率為1Hz時,都有數pT/cmHz1/2以上;而在白雜訊區段,則都在100fT/cmHz1/2以上。zh_TW
dc.description.sponsorship光電科技研究所zh_TW
dc.identifierGN0693480336
dc.identifier.urihttp://etds.lib.ntnu.edu.tw/cgi-bin/gs32/gsweb.cgi?o=dstdcdr&s=id=%22GN0693480336%22.&%22.id.&
dc.identifier.urihttp://rportal.lib.ntnu.edu.tw:80/handle/20.500.12235/98137
dc.language中文
dc.subject磁量計zh_TW
dc.titleSQUID磁量計串接式特性之研究zh_TW

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